岩石微观检测是地质学研究中的一个重要方面，它帮助科学家了解岩石的矿物组成、结构特征及其形成过程。通过微观检测可以获取有关岩石内部构造、颗粒形态、晶体结构及微裂隙等详细信息。以下是一些常用的岩石微观检测方法和技术：

　　1. 光学显微镜分析

　　偏光显微镜：这是基础也是常用的岩石微观检测工具之一。通过对薄片(通常厚度为30微米)进行观察，利用不同矿物在偏振光下的光学特性(如双折射、消光角等)，来识别矿物种类和分析岩石的结构。

　　反射光显微镜：主要用于金属矿石的研究，通过观察矿物表面的反射光来辨别矿物。

　　2. 扫描电子显微镜(SEM)

　　SEM能够提供高分辨率的图像，显示岩石样本表面极其细微的形貌特征，包括颗粒形状、大小分布以及微裂隙等。结合能量散射X射线光谱(EDS)，还可以对元素组成进行半定量分析。

　　3. 透射电子显微镜(TEM)

　　TEM适用于观察更细微的结构细节，如纳米级别的矿物晶体结构或特定相态的存在形式。它能揭示出原子排列情况，对于研究矿物间的界面关系特别有用。

　　4. X射线衍射(XRD)

　　XRD是一种非破坏性的技术，用于确定岩石中各种矿物相的存在及其相对含量。通过分析X射线与物质相互作用后产生的衍射图案，可以精确地鉴定出样品中的矿物成分。

　　5. 微区化学分析

　　包括电子探针微量分析(EPMA)和激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)，这些技术允许对岩石内的特定区域进行详细的化学成分分析，有助于理解矿物的形成条件和岩石的历史。

　　样品准备

　　为了进行上述任何一种微观检测，都需要精心准备样品。例如，制作薄片时需要将岩石切割、研磨至合适的厚度，并抛光表面以获得清晰的观测效果。对于SEM和TEM分析，则可能需要特殊的制样步骤，如镀膜处理等。