钨矿石中钨(W)含量检测是钨资源勘探、选矿、冶炼及贸易结算的关键环节。自然界中钨主要以黑钨矿((Fe,Mn)WO₄)和白钨矿(CaWO₄)形式存在，二者化学性质不同，需针对性选择分解与测定方法。

　　1. 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)——首选

　　优点：快速、多元素、线性范围宽(0.1 mg/L – 数 g/L);

　　分析谱线：W 207.911 nm(灵敏度高，干扰少);

　　校准：配制 W 标准系列(如 0.1, 1, 5, 10 mg/L)，基体匹配(含 Na⁺);

　　适用范围：0.01% – 100% WO₃;

　　检出限：~0.05 mg/L(相当于 ~0.001% WO₃)。

　　2. 分光光度法(经典化学法，适用于中高品位)

　　原理：钨在酸性介质中与硫氰酸盐(SCN⁻)或磷硅酸形成有色络合物;

　　常用方法：

　　硫氰酸盐法(GB/T 6150.1)：

　　在 HCl 介质中，W⁶⁺ 被还原为 W⁵⁺，与 SCN⁻ 生成蓝色 [W(SCN)₇]²⁻;

　　测定波长：400–420 nm;

　　适用于 0.01–5% W。

　　磷钨蓝法：

　　钨与磷酸形成磷钨杂多酸，被还原为“磷钨蓝”;

　　波长：700–830 nm;

　　灵敏度高，但易受 Mo、V 干扰。

　　优点：设备简单，成本低;

　　缺点：操作繁琐，干扰多，需严格控制还原条件。

　　3. 重量法(适用于高品位钨精矿)

　　原理：将钨沉淀为钨酸(H₂WO₄)或钨酸铅，灼烧称重;

　　步骤简述：

　　溶液调至弱酸性;

　　加热煮沸，析出钨酸沉淀;

　　过滤、洗涤、750°C 灼烧至恒重(得 WO₃);

　　计算：

　　准确度高，但耗时长，仅用于仲裁或高品位样品(>20% WO₃)。

　　4. X射线荧光光谱法(XRF)——快速筛查

　　制样：压片法(加粘结剂)或熔片法(Li₂B₄O₇ 熔融);

　　优点：无损、快速(<5 分钟/样);

　　局限：轻元素干扰、粒度效应明显;

　　适用：矿山现场品位初判、选厂过程控制。

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